Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Documentation
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Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing

(1) , (1) , (1) , (1)

1

Norbert Dumas

Fonction : Auteur
PersonId : 938762

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Florence Azaïs

Fonction : Auteur
PersonId : 8583
IdHAL : florence-azais
ORCID : 0000-0001-6458-5018
IdRef : 114259453

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Laurent Latorre

Fonction : Auteur
PersonId : 8585
IdHAL : laurent-latorre
ORCID : 0000-0003-0478-1572
IdRef : 160859581

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Pascal Nouet

Fonction : Auteur
PersonId : 6242
IdHAL : pascal-nouet
ORCID : 0000-0003-2137-2623
IdRef : 079135196

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108904

Soumis le : lundi 23 octobre 2006-12:57:12

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Dates et versions

lirmm-00108904 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00108904 , version 1

Citer

Norbert Dumas, Florence Azaïs, Laurent Latorre, Pascal Nouet. Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing. ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.60-65. ⟨lirmm-00108904⟩

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