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Conference papers

Modélisation des effets de perturbation de la tension d'alimentation sur les circuits CMOS

Résumé : Plusieurs techniques d'attaques matérielles de circuits sécurisés sont décrites dans la littérature dont les attaques par injection de fautes. Ces dernières consistent à stresser un circuit pour créer un dysfonctionnement temporaire pouvant permettre l'accès à des zones protégées ou à des informations confidentielles. Notre étude a pour but de construire un modèle de fautes DFA (Differential Fault Analysis) liées à la perturbation de la tension d'alimentation d'un circuit CMOS. Ce modèle devra traduire la sensibilité de ce circuit vis-à-vis des perturbations en fonction de la sensibilité des éléments standard qui le composent (logique combinatoire, registres ...). Ce papier présente les travaux de simulations menés à ce jour et leurs résultats.
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00109103
Contributor : Guy Cathébras <>
Submitted on : Monday, October 23, 2006 - 6:45:53 PM
Last modification on : Thursday, May 24, 2018 - 3:59:20 PM
Long-term archiving on: : Tuesday, April 6, 2010 - 8:44:32 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00109103, version 1

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Citation

Anissa Djellid-Ouar, Guy Cathébras, Frédéric Bancel. Modélisation des effets de perturbation de la tension d'alimentation sur les circuits CMOS. JNRDM'06 : Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, May 2006, Rennes, France. pp.82-84. ⟨lirmm-00109103⟩

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