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Conference papers

Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques

Patrick Girard 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Complete list of metadatas

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00109139
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Tuesday, October 24, 2006 - 7:31:55 AM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 3:46:02 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00109139, version 1

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Citation

Patrick Girard. Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques. Réunion Action Spécifique CNRS "TestSOC-MRF", 2004. ⟨lirmm-00109139⟩

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