Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Access content directly
Conference Papers Year : 2004

Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques

No file

Dates and versions

lirmm-00109139 , version 1 (24-10-2006)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00109139 , version 1

Cite

Patrick Girard. Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques. Réunion Action Spécifique CNRS "TestSOC-MRF", 2004. ⟨lirmm-00109139⟩
32 View
0 Download

Share

Gmail Facebook X LinkedIn More