Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Conference Papers Year : 2004

Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques

Patrick Girard
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domains

Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Christine Carvalho De Matos  : Connect in order to contact the contributor

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00109139

Submitted on : Tuesday, October 24, 2006-7:31:55 AM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:48 PM

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Dates and versions

lirmm-00109139 , version 1 (24-10-2006)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00109139 , version 1

Cite

Patrick Girard. Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques. Réunion Action Spécifique CNRS "TestSOC-MRF", 2004. ⟨lirmm-00109139⟩

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