Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques

Patrick Girard 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
Réunion Action Spécifique CNRS "TestSOC-MRF", 2004, 2004
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00109139
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 24 octobre 2006 - 07:31:55
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00109139, version 1

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Patrick Girard. Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques. Réunion Action Spécifique CNRS "TestSOC-MRF", 2004, 2004. 〈lirmm-00109139〉

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