Electro-thermal short pulsed simulation for SOI technology

Résumé : N/A
Type de document :
Communication dans un congrès
ESREF'06: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct 2006, Wuppertal (Allemagne), pp.4, 2006
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00112981
Contributeur : Florence Azais <>
Soumis le : vendredi 10 novembre 2006 - 12:56:46
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00112981, version 1

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Citation

Christophe Entringer, Philippe Flatresse, Philippe Galy, Florence Azaïs, Pascal Nouet. Electro-thermal short pulsed simulation for SOI technology. ESREF'06: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct 2006, Wuppertal (Allemagne), pp.4, 2006. 〈lirmm-00112981〉

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