Challenges in Manufacturing Test of MNT-based Systems - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Challenges in Manufacturing Test of MNT-based Systems

Pascal Nouet
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Pascal Nouet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00128280

Soumis le : mercredi 31 janvier 2007-15:22:48

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00128280 , version 1 (31-01-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00128280 , version 1

Citer

Pascal Nouet. Challenges in Manufacturing Test of MNT-based Systems. IMSTW'06: 12th International Mixed Signal Testing Workshop, Jun 2006. ⟨lirmm-00128280⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
49 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More