Challenges in Manufacturing Test of MNT-based Systems

Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
IMSTW'06: 12th International Mixed Signal Testing Workshop, Jun 2006, IEEE, 2006
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00128280
Contributeur : Pascal Nouet <>
Soumis le : mercredi 31 janvier 2007 - 15:22:48
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 02:08:12

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00128280, version 1

Collections

Citation

Pascal Nouet. Challenges in Manufacturing Test of MNT-based Systems. IMSTW'06: 12th International Mixed Signal Testing Workshop, Jun 2006, IEEE, 2006. 〈lirmm-00128280〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

18