Méthode unifiée de diagnostic ciblant l'ensemble des modèles de fautes

Résumé : Ce papier présente une méthode de diagnostic unifiée ciblant l'ensemble des modèles de fautes utilisés pour représenter les divers comportements de défaillances pouvant affecter les circuits nanométriques. Cette méthode basée sur une approche dite « Effet à Cause » s'appuie sur deux processus. Le premier permet de déterminer l'ensemble des pannes potentielles affectant une connexion sur laquelle apparaît une erreur logique. Le second, basé sur le principe de « traçage de chemins critiques, permet de déterminer l'ensemble des connexions susceptibles de comporter une erreur logique se propageant jusqu'à la sortie erronée.
Mots-clés : Diagnostic
Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France. 9ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, 2006
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Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2007 - 14:42:59
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02
Document(s) archivé(s) le : mercredi 7 avril 2010 - 01:36:36

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  • HAL Id : lirmm-00136841, version 1

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Alexandre Rousset, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. Méthode unifiée de diagnostic ciblant l'ensemble des modèles de fautes. JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France. 9ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, 2006. 〈lirmm-00136841〉

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