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Conference papers
Méthode unifiée de diagnostic ciblant l'ensemble des modèles de fautes
Résumé : Ce papier présente une méthode de diagnostic unifiée ciblant l'ensemble des modèles de fautes utilisés pour représenter les divers comportements de défaillances pouvant affecter les circuits nanométriques. Cette méthode basée sur une approche dite « Effet à Cause » s'appuie sur deux processus. Le premier permet de déterminer l'ensemble des pannes potentielles affectant une connexion sur laquelle apparaît une erreur logique. Le second, basé sur le principe de « traçage de chemins critiques, permet de déterminer l'ensemble des connexions susceptibles de comporter une erreur logique se propageant jusqu'à la sortie erronée.
Mots-clés :
Diagnostic
Cited literature [12 references]
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00136841
Contributor : Arnaud Virazel <>
Submitted on : Thursday, March 15, 2007 - 2:42:59 PM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 3:46:02 PM
Long-term archiving on: : Wednesday, April 7, 2010 - 1:36:36 AM
Contributor : Arnaud Virazel <>
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