Un-Restored Destructive Write Faults due to Resistive-Open Defects in the Write Driver of SRAMs

Résumé : N/A
Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), IEEE, pp.361-366, 2007
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00155979
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mardi 19 juin 2007 - 15:53:59
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00155979, version 1

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Citation

Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, et al.. Un-Restored Destructive Write Faults due to Resistive-Open Defects in the Write Driver of SRAMs. VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), IEEE, pp.361-366, 2007. 〈lirmm-00155979〉

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