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Conference papers

Variabilité de Process et Performances des Mémoires SRAM Embarquées

Michael Yap San Min 1 Philippe Maurine 2 Magali Bastian Hage-Hassan 1, 3 Michel Robert 2
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 INFINEON - SOPHIA - Infineon Technologies France
Mots-clés : Dummy Row Decoder Faible Tension Mémoire Auto Synchronisée SRAM Statistical Design
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00178319
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Wednesday, October 10, 2007 - 4:44:54 PM
Last modification on : Friday, November 13, 2020 - 11:12:01 AM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00178319, version 1

Collections

CNRS | SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Michael Yap San Min, Philippe Maurine, Magali Bastian Hage-Hassan, Michel Robert. Variabilité de Process et Performances des Mémoires SRAM Embarquées. FTFC'07: 6èmes Journées d'Etudes Faible Tension Faible Consommation, May 2007, Paris, France, pp.7-11. ⟨lirmm-00178319⟩

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