Variabilité de Process et Performances des Mémoires SRAM Embarquées - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Variabilité de Process et Performances des Mémoires SRAM Embarquées

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00178319

Soumis le : mercredi 10 octobre 2007-16:44:54

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00178319 , version 1 (10-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00178319 , version 1

Citer

Michael Yap San Min, Philippe Maurine, Magali Bastian Hage-Hassan, Michel Robert. Variabilité de Process et Performances des Mémoires SRAM Embarquées. FTFC'07: 6èmes Journées d'Etudes Faible Tension Faible Consommation, May 2007, Paris, France, pp.7-11. ⟨lirmm-00178319⟩

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