Variabilité de Process et Performances des Mémoires SRAM Embarquées

Michael Yap San Min 1 Philippe Maurine 2 Magali Bastian 1, 3 Michel Robert 2
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 INFINEON - SOPHIA - Infineon Technologies France
Mots-clés : Dummy Row Decoder Faible Tension Mémoire Auto Synchronisée SRAM Statistical Design
Type de document :
Communication dans un congrès
FTFC'07: 6èmes Journées d'Etudes Faible Tension Faible Consommation, May 2007, Paris, France, pp.7-11, 2007, 〈http://www.isep.fr/ftfc〉
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00178319
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mercredi 10 octobre 2007 - 16:44:54
Dernière modification le : mercredi 24 octobre 2018 - 09:02:05

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00178319, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Michael Yap San Min, Philippe Maurine, Magali Bastian, Michel Robert. Variabilité de Process et Performances des Mémoires SRAM Embarquées. FTFC'07: 6èmes Journées d'Etudes Faible Tension Faible Consommation, May 2007, Paris, France, pp.7-11, 2007, 〈http://www.isep.fr/ftfc〉. 〈lirmm-00178319〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

111

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD