Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Conference Papers Year : 2007

Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes

Domains

Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Arnaud Virazel  : Connect in order to contact the contributor

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00194278

Submitted on : Thursday, December 6, 2007-11:24:31 AM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:49 PM

No file

Dates and versions

lirmm-00194278 , version 1 (06-12-2007)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00194278 , version 1

Cite

Julien Vial, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes. Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France. ⟨lirmm-00194278⟩

Export

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
82 View
0 Download

Share

More