Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00194278

Soumis le : jeudi 6 décembre 2007-11:24:31

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00194278 , version 1 (06-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00194278 , version 1

Citer

Julien Vial, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes. Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France. ⟨lirmm-00194278⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
85 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More