Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00194282

Soumis le : jeudi 6 décembre 2007-11:27:40

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00194282 , version 1 (06-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00194282 , version 1

Citer

Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, et al.. Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry. Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France. ⟨lirmm-00194282⟩

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