Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
Arnaud Virazel : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00194282
Soumis le : jeudi 6 décembre 2007-11:27:40
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00194282 , version 1
Citer
Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, et al.. Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry. Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France. ⟨lirmm-00194282⟩
85
Consultations
0
Téléchargements