Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry

Type de document :
Communication dans un congrès
Colloque GDR SoC-SiP, France. 2007
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00194282
Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : jeudi 6 décembre 2007 - 11:27:40
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00194282, version 1

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Citation

Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, et al.. Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry. Colloque GDR SoC-SiP, France. 2007. 〈lirmm-00194282〉

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