 |
HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
European Network for Test Education
Yves Bertrand
1
Marie-Lise Flottes
1
Florence Azaïs
1
Serge Bernard
1
Laurent Latorre
1
Régis Lorival
2
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Yves Bertrand 1
Author
Marie-Lise Flottes 1
Author IdHAL : marie-lise-flottes
Florence Azaïs 1
Author IdHAL : florence-azais
Serge Bernard 1
Author IdHAL : serge-bernard ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/N-4452-2016 ORCID : https://orcid.org/0000-0003-1772-0592
Laurent Latorre 1
Author IdHAL : laurent-latorre ORCID : https://orcid.org/0000-0003-0478-1572
Régis Lorival 2
Author
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
2
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268490
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Tuesday, April 1, 2008 - 9:27:31 AM
Last modification on : Tuesday, January 5, 2021 - 4:00:04 PM
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Tuesday, April 1, 2008 - 9:27:31 AM
Last modification on : Tuesday, January 5, 2021 - 4:00:04 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00268490, version 1
Citation
Yves Bertrand, Marie-Lise Flottes, Florence Azaïs, Serge Bernard, Laurent Latorre, et al.. European Network for Test Education. DELTA'02: 1st International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Christchurch, New Zeland, pp.230-239. ⟨lirmm-00268490⟩
Metrics
Record views