Power Driven Chaining of Flip-Flops in Scan Architectures

Type de document :
Communication dans un congrès
ITC'02: International Test Conference, Baltimore, USA, pp.796-803, 2002
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:31
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00268492, version 1

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Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Power Driven Chaining of Flip-Flops in Scan Architectures. ITC'02: International Test Conference, Baltimore, USA, pp.796-803, 2002. 〈lirmm-00268492〉

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