Low Voltage Testing of Gate Oxide Short in CMOS Technology

Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS'02: 5th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Brno, Czech Republic, pp.168-174, 2002
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:39
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00268526, version 1

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Michel Renovell, Jean-Marc Galliere, Florence Azaïs, Yves Bertrand. Low Voltage Testing of Gate Oxide Short in CMOS Technology. DDECS'02: 5th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Brno, Czech Republic, pp.168-174, 2002. 〈lirmm-00268526〉

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