Low Voltage Testing of Gate Oxide Short in CMOS Technology

Michel Renovell 1 Jean-Marc Galliere 2 Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, 2002, Brno, Czech Republic. 5th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.168-174, 2002
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268526
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:39
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 18:20:57

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00268526, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Michel Renovell, Jean-Marc Galliere, Florence Azaïs, Yves Bertrand. Low Voltage Testing of Gate Oxide Short in CMOS Technology. DDECS: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, 2002, Brno, Czech Republic. 5th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.168-174, 2002. 〈lirmm-00268526〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

60

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD