High Defect Coverage with Low Power Test Sequences in a BIST Environment

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IEEE Design & Test, IEEE, 2002, 19 (5), pp.44-52
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:54
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00268585, version 1

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Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Hans-Joachim Wunderlich. High Defect Coverage with Low Power Test Sequences in a BIST Environment. IEEE Design & Test, IEEE, 2002, 19 (5), pp.44-52. 〈lirmm-00268585〉

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