Article Dans Une Revue
IEEE Design & Test
Année : 2002
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268605
Soumis le : mardi 1 avril 2008-09:28:02
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50
Citer
Michel Renovell, Florence Azaïs, Yves Bertrand. Improving Defect Detection in Static-Voltage Testing. IEEE Design & Test, 2002, 17 (6), pp.83-89. ⟨10.1109/MDT.2002.1047747⟩. ⟨lirmm-00268605⟩
53
Consultations
0
Téléchargements