Improving Defect Detection in Static-Voltage Testing

Michel Renovell 1 Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Article dans une revue
IEEE Design & Test of Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 17 (6), pp.83-89
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268605
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:28:02
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00268605, version 1

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Citation

Michel Renovell, Florence Azaïs, Yves Bertrand. Improving Defect Detection in Static-Voltage Testing. IEEE Design & Test of Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 17 (6), pp.83-89. 〈lirmm-00268605〉

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