A Simple and Effective Compression Scheme for Test Pins Reduction

Type de document :
Communication dans un congrès
HLDVT'02: IEEE International Workshop on High Level Design Validation and Test, Cannes (France), France. pp. 165-168, 2002
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269326
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mercredi 2 avril 2008 - 16:46:00
Dernière modification le : mardi 23 octobre 2018 - 10:46:02

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269326, version 1

Collections

Citation

Marie-Lise Flottes, Régis Poirier, Bruno Rouzeyre. A Simple and Effective Compression Scheme for Test Pins Reduction. HLDVT'02: IEEE International Workshop on High Level Design Validation and Test, Cannes (France), France. pp. 165-168, 2002. 〈lirmm-00269326〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

53