Structural and Functional Analysis for Initialization of High Pipelined Industrial BISTed Circuits Using Partial Reset

Type de document :
Communication dans un congrès
LATW: 4th IEEE Latin American Test Workshop, Natal, Brazil. pp.84-89, 2003
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:12:11
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00269462, version 1

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Isabelle Vogel, Marie-Lise Flottes, Christian Landrault. Structural and Functional Analysis for Initialization of High Pipelined Industrial BISTed Circuits Using Partial Reset. LATW: 4th IEEE Latin American Test Workshop, Natal, Brazil. pp.84-89, 2003. 〈lirmm-00269462〉

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