A Unified DFT Approach for BIST and External Test

Marie-Lise Flottes 1 Christian Landrault 1 Aurélia Petitqueux 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2003, 19 (1), pp.49-60
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269517
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:40
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269517, version 1

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Citation

Marie-Lise Flottes, Christian Landrault, Aurélia Petitqueux. A Unified DFT Approach for BIST and External Test. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2003, 19 (1), pp.49-60. 〈lirmm-00269517〉

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