Defect Analysis for Delay-Fault BIST in FPGAs

Type de document :
Communication dans un congrès
IOLTS'03: 9th International On-Line Testing Symposium, Kos (Greece), pp. 124-128, 2003
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:48
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00269553, version 1

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Citation

Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch, Michel Renovell. Defect Analysis for Delay-Fault BIST in FPGAs. IOLTS'03: 9th International On-Line Testing Symposium, Kos (Greece), pp. 124-128, 2003. 〈lirmm-00269553〉

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