Structural Testing of Modern Reconfigurable Chips

Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : This paper presents recent developments for testing SRAM-based FPGAs using a structural approach. The specific architecture of these new chips is first presented identifying the specific FPGA test problems as well as the FPGA test properties. The FPGA architecture is then conceptually divided into different architectural elements. For each architectural element test configurations and test vectors are derived targeting the assumed fault models.
Type de document :
Communication dans un congrès
EWDTC: East-West Design & Test Conference, Sep 2003, Moscou, Russia. pp.5-9, 2003
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 19 juillet 2018 - 16:36:28
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 20:17:28
Document(s) archivé(s) le : samedi 20 octobre 2018 - 14:50:16

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Michel Renovell. Structural Testing of Modern Reconfigurable Chips. EWDTC: East-West Design & Test Conference, Sep 2003, Moscou, Russia. pp.5-9, 2003. 〈lirmm-00269648〉

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