Process Variability Considerations in the Design of an eSRAM

Type de document :
Communication dans un congrès
MTDT'07: IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, Dec 2007, Taipei, Taiwan, IEEE, pp.23-26, 2007
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mercredi 23 avril 2008 - 09:36:21
Dernière modification le : mardi 26 juin 2018 - 01:18:33

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00275258, version 1

Citation

Michael Yap San Min, Patrick Maurine, Michel Robert, Magali Bastian. Process Variability Considerations in the Design of an eSRAM. MTDT'07: IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, Dec 2007, Taipei, Taiwan, IEEE, pp.23-26, 2007. 〈lirmm-00275258〉

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