Statistical Sizing of an eSRAM Dummy Bitline Driver for Read Margin Improvement in the Presence of Variability Aspects

Type de document :
Communication dans un congrès
ISVLSI'08: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, Apr 2008, Montpellier, France, IEEE, pp.310-315, 2008
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 19 mai 2008 - 15:40:30
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00280716, version 1

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Michael Yap San Min, Philippe Maurine, Magali Bastian, Michel Robert. Statistical Sizing of an eSRAM Dummy Bitline Driver for Read Margin Improvement in the Presence of Variability Aspects. ISVLSI'08: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, Apr 2008, Montpellier, France, IEEE, pp.310-315, 2008. 〈lirmm-00280716〉

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