Statistical Sizing of an eSRAM Dummy Bitline Driver for Read Margin Improvement in the Presence of Variability Aspects - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Statistical Sizing of an eSRAM Dummy Bitline Driver for Read Margin Improvement in the Presence of Variability Aspects

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00280716

Soumis le : lundi 19 mai 2008-15:40:30

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00280716 , version 1 (19-05-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00280716 , version 1

Citer

Michael Yap San Min, Philippe Maurine, Magali Bastian Hage-Hassan, Michel Robert. Statistical Sizing of an eSRAM Dummy Bitline Driver for Read Margin Improvement in the Presence of Variability Aspects. ISVLSI'08: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, Apr 2008, Montpellier, France, pp.310-315. ⟨lirmm-00280716⟩

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