An SRAM Design-for-Diagnosis Solution Based on Write Driver Voltage Sensing

Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'08: VLSI Test Symposium, May 2008, San Diego, CA, USA, IEEE, pp.89-94, 2008
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00281558
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 23 mai 2008 - 11:03:57
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00281558, version 1

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Citation

Alexandre Ney, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian, et al.. An SRAM Design-for-Diagnosis Solution Based on Write Driver Voltage Sensing. VTS'08: VLSI Test Symposium, May 2008, San Diego, CA, USA, IEEE, pp.89-94, 2008. 〈lirmm-00281558〉

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