Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00285875

Soumis le : vendredi 6 juin 2008-15:00:15

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00285875 , version 1 (06-06-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00285875 , version 1

Citer

Benoît Godard, Jean-Michel Daga, Lionel Torres, Gilles Sassatelli. Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories. ETS: European Test Symposium, May 2008, Verbania, Italy. pp.84-90. ⟨lirmm-00285875⟩

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