Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories

Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2008, Verbania, Italy. 13th IEEE European Test Symposium, pp.84-90, 2008
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 6 juin 2008 - 15:00:15
Dernière modification le : mardi 26 juin 2018 - 01:18:49

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00285875, version 1

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Citation

Benoît Godard, Jean-Michel Daga, Lionel Torres, Gilles Sassatelli. Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories. ETS: European Test Symposium, May 2008, Verbania, Italy. 13th IEEE European Test Symposium, pp.84-90, 2008. 〈lirmm-00285875〉

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