Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories

Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2008, Verbania, Italy. 13th IEEE European Test Symposium, pp.84-90, 2008
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00285875
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 6 juin 2008 - 15:00:15
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00285875, version 1

Collections

Citation

Benoît Godard, Jean-Michel Daga, Lionel Torres, Gilles Sassatelli. Hierarchical Code Correction and Reliability Management in Embedded NOR Flash Memories. ETS: European Test Symposium, May 2008, Verbania, Italy. 13th IEEE European Test Symposium, pp.84-90, 2008. 〈lirmm-00285875〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

83