A Simulator of Small-Delay Faults Caused by Resistive-Open Defects

Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2008, Verbania, Italy. 13th IEEE European Test Symposium, pp.113-118, 2008
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 6 juin 2008 - 15:14:23
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

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  • HAL Id : lirmm-00285886, version 1

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Citation

Alejandro Czutro, Nicolas Houarche, Piet Engelke, Ilia Polian, Mariane Comte, et al.. A Simulator of Small-Delay Faults Caused by Resistive-Open Defects. ETS: European Test Symposium, May 2008, Verbania, Italy. 13th IEEE European Test Symposium, pp.113-118, 2008. 〈lirmm-00285886〉

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