A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction

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Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2008, 24 (4), pp.353-364. 〈10.1007/s10836-007-5053-z〉
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 16 octobre 2008 - 11:10:00
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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Nabil Badereddine, Zhanglei Wang, Patrick Girard, Krishnendu Chakrabarty, Arnaud Virazel, et al.. A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2008, 24 (4), pp.353-364. 〈10.1007/s10836-007-5053-z〉. 〈lirmm-00331296〉

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