A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction

Nabil Badereddine; Zhanglei Wang; Patrick Girard; Krishnendu Chakrabarty; Arnaud Virazel; Serge Pravossoudovitch; Christian Landrault

doi:10.1007/s10836-007-5053-z

A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction

Nabil Badereddine ¹ Zhanglei Wang ^{2, *} Patrick Girard ³ Krishnendu Chakrabarty ^{2, *} Arnaud Virazel ³ Serge Pravossoudovitch ³ Christian Landrault ¹

* Auteur correspondant

1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 ECE - Department of Electrical and Computer Engineering [Durham]

3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Keywords : DfT Scan Low Power Testing Test Data Compression

Type de document :

Article dans une revue

Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2008, 24 (4), pp.353-364. 〈10.1007/s10836-007-5053-z〉

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00331296
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 16 octobre 2008 - 11:10:00
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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