Modularer Selbsttest und Optimierte Reparaturanalyse für Eingebettete Speicher

Philipp Öhler 1 Sybille Hellebrand 1 Alberto Bosio 2 Giorgio Di Natale 2
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : An efficient on-chip infrastructure for memory test and repair is crucial to enhance yield and availability of SoCs. Most of the existing built-in self-repair solutions contain IP-Cores for BIST, which allows a reuse of the BIST hardware without modifications, but also prevents an optimized test and repair interaction. In this paper, the concept of modular BIST for memories is introduced. The modularity of the test is achieved with only small modifications in the BIST control and supports a more efficient interleaving of test and repair.
keyword : BIST BISR RAM
Type de document :
Communication dans un congrès
ZUE'08: Zuverlässigkeit und Entwurf, Germany. pp.049-056, 2008
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00332558
Contributeur : Giorgio Di Natale <>
Soumis le : mardi 21 octobre 2008 - 11:07:16
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00332558, version 1

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Citation

Philipp Öhler, Sybille Hellebrand, Alberto Bosio, Giorgio Di Natale. Modularer Selbsttest und Optimierte Reparaturanalyse für Eingebettete Speicher. ZUE'08: Zuverlässigkeit und Entwurf, Germany. pp.049-056, 2008. 〈lirmm-00332558〉

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