SoC Yield Improvement: Redundant Architectures to the Rescue

Julien Vial 1 Alberto Bosio 2 Patrick Girard 2 Christian Landrault 1 Serge Pravossoudovitch 2 Arnaud Virazel 2
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : Manufacturing processes in the nanoscale era are less and less reliable thus leading to lower and lower yield. In this paper we investigate the usage of TMR architectures for logic cores to increase SoC yield.
Type de document :
Poster
ITC'2008: International Test Conference, Oct 2008, Santa Clara, CA, United States. IEEE, pp.7, 2008
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00341799
Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : mercredi 26 novembre 2008 - 09:34:34
Dernière modification le : mardi 26 février 2019 - 17:06:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00341799, version 1

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SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Julien Vial, Alberto Bosio, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, et al.. SoC Yield Improvement: Redundant Architectures to the Rescue. ITC'2008: International Test Conference, Oct 2008, Santa Clara, CA, United States. IEEE, pp.7, 2008. 〈lirmm-00341799〉

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