Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test

Résumé : L'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de fautes associées aux séquences de vecteurs adjacents (ou SIC pour Single Input Change) et non adjacents (ou MIC pour Multiple Input Change), dans le cadre du test intégré. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes sur les modèles de collage, de court-circuit et de délai de chemin.
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00345806
Contributor : Arnaud Virazel <>
Submitted on : Friday, July 19, 2019 - 6:09:20 PM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 3:46:02 PM

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TEST_INTEGRE_DE_CIRCUITS_DIGIT...
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  • HAL Id : lirmm-00345806, version 1

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Arnaud Virazel, René David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test. Journées des Doctorants, École Doctorale I2S, 2001, Montpellier, France. pp.158-160. ⟨lirmm-00345806⟩

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