Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Access content directly
Conference Papers Year : 2001

Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test

Abstract

L'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de fautes associées aux séquences de vecteurs adjacents (ou SIC pour Single Input Change) et non adjacents (ou MIC pour Multiple Input Change), dans le cadre du test intégré. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes sur les modèles de collage, de court-circuit et de délai de chemin.
Fichier principal
Vignette du fichier
TEST_INTEGRE_DE_CIRCUITS_DIGITAUX_COMPARAISON_DE_D.pdf (68.27 Ko) Télécharger le fichier
Origin Files produced by the author(s)
Loading...

Dates and versions

lirmm-00345806 , version 1 (19-07-2019)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00345806 , version 1

Cite

Arnaud Virazel, René M. G. David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test. Journées des Doctorants, École Doctorale I2S, 2001, Montpellier, France. pp.158-160. ⟨lirmm-00345806⟩
142 View
36 Download

Share

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More