Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2001

Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test

Résumé

L'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de fautes associées aux séquences de vecteurs adjacents (ou SIC pour Single Input Change) et non adjacents (ou MIC pour Multiple Input Change), dans le cadre du test intégré. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes sur les modèles de collage, de court-circuit et de délai de chemin.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00345806

Soumis le : vendredi 19 juillet 2019-18:09:20

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:34:52

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Dates et versions

lirmm-00345806 , version 1 (19-07-2019)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00345806 , version 1

Citer

Arnaud Virazel, René M. G. David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test. Journées des Doctorants, École Doctorale I2S, 2001, Montpellier, France. pp.158-160. ⟨lirmm-00345806⟩

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