Analysis of Resistive-Open Defects in SRAM Sense Amplifiers

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IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE, 2009, 17 (10), pp.1556-1559
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 27 mars 2009 - 15:44:38
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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Alexandre Ney, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian. Analysis of Resistive-Open Defects in SRAM Sense Amplifiers. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE, 2009, 17 (10), pp.1556-1559. 〈lirmm-00371367〉

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