Analysis of Resistive-Open Defects in SRAM Sense Amplifiers - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

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Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems Année : 2009

Analysis of Resistive-Open Defects in SRAM Sense Amplifiers

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3

Alexandre Ney

Fonction : Auteur
PersonId : 845063

Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Patrick Girard

Fonction : Auteur
PersonId : 740458
IdHAL : patrick-girard-lirmm
ORCID : 0000-0003-0722-8772

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Serge Pravossoudovitch

Fonction : Auteur
PersonId : 938342

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Arnaud Virazel

Fonction : Auteur
PersonId : 18065
IdHAL : arnaud-virazel
ORCID : 0000-0001-7398-7107
IdRef : 068454724

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Magali Bastian Hage-Hassan

Fonction : Auteur

Infineon Technologies France

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00371367

Soumis le : vendredi 27 mars 2009-15:44:38

Dernière modification le : vendredi 28 avril 2023-14:27:53

Dates et versions

lirmm-00371367 , version 1 (27-03-2009)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00371367 , version 1
DOI : 10.1109/TVLSI.2008.2005194

Citer

Alexandre Ney, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan. Analysis of Resistive-Open Defects in SRAM Sense Amplifiers. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2009, 17 (10), pp.1556-1559. ⟨10.1109/TVLSI.2008.2005194⟩. ⟨lirmm-00371367⟩

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