A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

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Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Computers Année : 2010

A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects

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Alberto Bosio

Fonction : Auteur
PersonId : 172965
IdHAL : alberto-bosio
ORCID : 0000-0001-6116-7339
IdRef : 174383592

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Patrick Girard

Fonction : Auteur
PersonId : 740458
IdHAL : patrick-girard-lirmm
ORCID : 0000-0003-0722-8772

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Serge Pravossoudovitch

Fonction : Auteur
PersonId : 938342

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Arnaud Virazel

Fonction : Auteur
PersonId : 18065
IdHAL : arnaud-virazel
ORCID : 0000-0001-7398-7107
IdRef : 068454724

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553545

Soumis le : vendredi 7 janvier 2011-15:20:49

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Dates et versions

lirmm-00553545 , version 1 (07-01-2011)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00553545 , version 1
DOI : 10.1109/TC.2009.177

Citer

Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects. IEEE Transactions on Computers, 2010, 59 (3), pp.289-300. ⟨10.1109/TC.2009.177⟩. ⟨lirmm-00553545⟩

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