A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects

Alberto Bosio 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Article dans une revue
IEEE Transactions on Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, 59 (3), pp.289-300
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553545
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 7 janvier 2011 - 15:20:49
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553545, version 1

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Citation

Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects. IEEE Transactions on Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, 59 (3), pp.289-300. 〈lirmm-00553545〉

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