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Journal articles
A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects
Alberto Bosio
1
Patrick Girard
1
Serge Pravossoudovitch
1
Arnaud Virazel
1
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Alberto Bosio 1
Author IdHAL : alberto-bosio ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6116-7339
Patrick Girard 1
Author IdHAL : patrick-girard-lirmm
Serge Pravossoudovitch 1
Author
Arnaud Virazel 1
Author IdHAL : arnaud-virazel IdRef : https://www.idref.fr/068454724 ISNI : http://isni.org/isni/0000000139422532
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
Document type :
Journal articles
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553545
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Friday, January 7, 2011 - 3:20:49 PM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Friday, January 7, 2011 - 3:20:49 PM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00553545, version 1
Citation
Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects. IEEE Transactions on Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, 59 (3), pp.289-300. ⟨lirmm-00553545⟩
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