A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes

Résumé : N/A
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Article dans une revue
Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2010, 6 (2), pp.359-374
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 7 janvier 2011 - 15:25:55
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00553548, version 1

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Citation

Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes. Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2010, 6 (2), pp.359-374. 〈lirmm-00553548〉

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