A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Article Dans Une Revue Journal of Low Power Electronics Année : 2010

A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes

Résumé

N/A

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : vendredi 7 janvier 2011-15:25:55

Dernière modification le : mardi 15 octobre 2024-15:03:32

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Dates et versions

lirmm-00553548 , version 1 (07-01-2011)

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Citer

Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes. Journal of Low Power Electronics, 2010, 6 (2), pp.359-374. ⟨10.1166/jolpe.2010.1086⟩. ⟨lirmm-00553548⟩

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