Analysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts

Type de document :
Communication dans un congrès
IOLTS'10: 16th IEEE International On-Line Testing Symposium, Corfu, Greece. pp.29-34, 2010
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 24 janvier 2011 - 16:26:40
Dernière modification le : jeudi 14 juin 2018 - 10:54:02

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  • HAL Id : lirmm-00559034, version 1

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Citation

Paolo Rech, Michelangelo Grosso, Fabio Melchiori, Domenico Loparco, Davide Appello, et al.. Analysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts. IOLTS'10: 16th IEEE International On-Line Testing Symposium, Corfu, Greece. pp.29-34, 2010. 〈lirmm-00559034〉

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