Analysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Analysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00559034

Soumis le : lundi 24 janvier 2011-16:26:40

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00559034 , version 1 (24-01-2011)

Identifiants

Citer

Paolo Rech, Michelangelo Grosso, Fabio Melchiori, Domenico Loparco, Davide Appello, et al.. Analysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts. IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2010, Corfu, Greece. pp.29-34, ⟨10.1109/IOLTS.2010.5560236⟩. ⟨lirmm-00559034⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
82 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More