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HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
X-Identification of Transition Delay Fault Tests for Launch-off Shift Scheme
Kohei Miyase
1
Fangmei Wu
2
Luigi Dilillo
3
Alberto Bosio
3
Patrick Girard
3
Xiaoqing Wen
1
Seiji Kajihara
1
3
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Kohei Miyase 1
Author
Fangmei Wu 2
Author
Luigi Dilillo 3
Mail : Site :
Author IdHAL : luigi-dilillo
Alberto Bosio 3
Mail :
Author IdHAL : alberto-bosio ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6116-7339
2
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
3
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
Résumé : N/A
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00566869
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Thursday, February 17, 2011 - 11:44:10 AM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 3:46:02 PM
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Thursday, February 17, 2011 - 11:44:10 AM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 3:46:02 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00566869, version 1
Citation
Kohei Miyase, Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, et al.. X-Identification of Transition Delay Fault Tests for Launch-off Shift Scheme. WRTLT'10: 11th IEEE Workshop On RTL and High Level Testing, Shanghai, China. pp.N/A. ⟨lirmm-00566869⟩
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