Impacts of Resistive-Open Defects in the Word-Line Selection of TAS-MRAMs

João Azevedo 1 Arnaud Virazel 1 Alberto Bosio 1 Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Aida Todri 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
Colloque GDR SoC-SiP, 2012, Paris, France. 2012
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00806842
Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : mardi 2 avril 2013 - 14:50:52
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00806842, version 1

Collections

Citation

João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Impacts of Resistive-Open Defects in the Word-Line Selection of TAS-MRAMs. Colloque GDR SoC-SiP, 2012, Paris, France. 2012. 〈lirmm-00806842〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

48