Impacts of Resistive-Open Defects in the Word-Line Selection of TAS-MRAMs - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Impacts of Resistive-Open Defects in the Word-Line Selection of TAS-MRAMs

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00806842

Soumis le : mardi 2 avril 2013-14:50:52

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00806842 , version 1 (02-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00806842 , version 1

Citer

João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Impacts of Resistive-Open Defects in the Word-Line Selection of TAS-MRAMs. Colloque GDR SoC-SiP, 2012, Paris, France. ⟨lirmm-00806842⟩

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