Adaptive Voltage Scaling via Effective On-Chip Timing Uncertainty Measurements - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Adaptive Voltage Scaling via Effective On-Chip Timing Uncertainty Measurements

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00806859

Soumis le : mardi 2 avril 2013-14:59:02

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00806859 , version 1 (02-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00806859 , version 1

Citer

Miroslav Valka, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial, et al.. Adaptive Voltage Scaling via Effective On-Chip Timing Uncertainty Measurements. Colloque GDR SoC-SiP, 2012, Paris, France. ⟨lirmm-00806859⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
93 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More