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HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Poster communications
Analog Measurements based on Digital Test Equipment for Low-Cost Testing of Analog/RF Circuits
Stéphane David-Grignot
1
Florence Azaïs
2
Laurent Latorre
2
François Lefevre
3
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Stéphane David-Grignot 1
Author
Florence Azaïs 2
Author IdHAL : florence-azais
Laurent Latorre 2
Author IdHAL : laurent-latorre
François Lefevre 3
Author
1
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
3
NXP Semiconductors (Netherlands)
Document type :
Poster communications
Complete list of metadatas
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00820084
Contributor : Florence Azais <>
Submitted on : Friday, May 3, 2013 - 9:53:36 AM
Last modification on : Tuesday, June 2, 2020 - 7:56:02 PM
Contributor : Florence Azais <>
Submitted on : Friday, May 3, 2013 - 9:53:36 AM
Last modification on : Tuesday, June 2, 2020 - 7:56:02 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00820084, version 1
Citation
Stéphane David-Grignot, Florence Azaïs, Laurent Latorre, François Lefevre. Analog Measurements based on Digital Test Equipment for Low-Cost Testing of Analog/RF Circuits. ETS: European Test Symposium, May 2013, Avignon, France. 18th IEEE European Test Symposium, 2013. ⟨lirmm-00820084⟩
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