Analog Measurements based on Digital Test Equipment for Low-Cost Testing of Analog/RF Circuits

Stéphane David-Grignot 1 Florence Azaïs 2 Laurent Latorre 2 François Lefevre 3
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 NXP Semiconductors
Type de document :
Poster
ETS: European Test Symposium, May 2013, Avignon, France. 18th IEEE European Test Symposium, 2013, 〈http://www.ieee-ets.org/past_events/ets13/program.php〉
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00820084
Contributeur : Florence Azais <>
Soumis le : vendredi 3 mai 2013 - 09:53:36
Dernière modification le : dimanche 10 février 2019 - 01:18:25

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00820084, version 1

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Citation

Stéphane David-Grignot, Florence Azaïs, Laurent Latorre, François Lefevre. Analog Measurements based on Digital Test Equipment for Low-Cost Testing of Analog/RF Circuits. ETS: European Test Symposium, May 2013, Avignon, France. 18th IEEE European Test Symposium, 2013, 〈http://www.ieee-ets.org/past_events/ets13/program.php〉. 〈lirmm-00820084〉

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