Analog Measurements based on Digital Test Equipment for Low-Cost Testing of Analog/RF Circuits

Stephane David-Grignot 1 Florence Azaïs 2 Laurent Latorre 2 François Lefevre 3
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 NXP Semiconductors
Type de document :
Poster
ETS: European Test Symposium, May 2013, Avignon, France. 18th IEEE European Test Symposium, 2013
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00820084
Contributeur : Florence Azais <>
Soumis le : vendredi 3 mai 2013 - 09:53:36
Dernière modification le : jeudi 28 juin 2018 - 18:44:07

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00820084, version 1

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Citation

Stephane David-Grignot, Florence Azaïs, Laurent Latorre, François Lefevre. Analog Measurements based on Digital Test Equipment for Low-Cost Testing of Analog/RF Circuits. ETS: European Test Symposium, May 2013, Avignon, France. 18th IEEE European Test Symposium, 2013. 〈lirmm-00820084〉

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