Performance Evaluation of Capacitive defects on TAS-MRAMs - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2013

Performance Evaluation of Capacitive defects on TAS-MRAMs

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00839093

Soumis le : jeudi 27 juin 2013-10:24:57

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00839093 , version 1 (27-06-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00839093 , version 1

Citer

João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Performance Evaluation of Capacitive defects on TAS-MRAMs. Colloque GDR SoC-SiP, 2013, Lyon, France. 2013. ⟨lirmm-00839093⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
132 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More