Method And Apparatus For Measuring Phase Noise - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Brevet Année : 2013

Method And Apparatus For Measuring Phase Noise

Florence Azaïs
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Laurent Latorre
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Stéphane David-Grignot
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1027443
NXP Semiconductors
François Lefevre
  • Fonction : Auteur
NXP Semiconductors

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Florence Azais  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00985404

Soumis le : mardi 29 avril 2014-16:06:22

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:58

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00985404 , version 1 (29-04-2014)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00985404 , version 1

Citer

Florence Azaïs, Laurent Latorre, Stéphane David-Grignot, François Lefevre. Method And Apparatus For Measuring Phase Noise. France, Patent n° : 81582852EP01. 2013, pp.32. ⟨lirmm-00985404⟩

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