A Comparative Analysis of Indirect Measurement Selection Strategies for Analog/RF Alternate Testing

Syhem Larguech 1 Florence Azaïs 1 Serge Bernard 1 Vincent Kerzérho 1 Mariane Comte 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
3rd IEEE International Workshop on Test and Validation of High Speed Analog Circuits, Sep 2013, Anaheim, CA, United States. 2013
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Contributeur : Florence Azais <>
Soumis le : mardi 29 avril 2014 - 16:20:44
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00985422, version 1

Citation

Syhem Larguech, Florence Azaïs, Serge Bernard, Vincent Kerzérho, Mariane Comte, et al.. A Comparative Analysis of Indirect Measurement Selection Strategies for Analog/RF Alternate Testing. 3rd IEEE International Workshop on Test and Validation of High Speed Analog Circuits, Sep 2013, Anaheim, CA, United States. 2013. 〈lirmm-00985422〉

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