Proceedings of IEEE 2016 European Test Symposium

Said Hamdioui 1 Maria Michael 2 Giorgio Di Natale 3 Haralampos-G. Stratigopoulos 4
1 TU Delft - Delft University of Technology
2 University of Cyprus [Nicosia]
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
4 CIAN - Circuits Intégrés Numériques et Analogiques
LIP6 - Laboratoire d'Informatique de Paris 6
Type de document :
Direction d'ouvrage, Proceedings, Dossier
ETS: European Test Symposium, May 2016, Amsterdam, Netherlands. IEEE, 2016
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01499309
Contributeur : Caroline Lebrun <>
Soumis le : vendredi 31 mars 2017 - 11:10:00
Dernière modification le : vendredi 31 août 2018 - 09:25:55

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01499309, version 1

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LIRMM | UPMC | LIP6 | LIRMM_MIC | MIC | SYSMIC | MIPS | LIP6-CIAN | UNIV-MONTPELLIER | TEST

Citation

Said Hamdioui, Maria Michael, Giorgio Di Natale, Haralampos-G. Stratigopoulos. Proceedings of IEEE 2016 European Test Symposium. ETS: European Test Symposium, May 2016, Amsterdam, Netherlands. IEEE, 2016. 〈lirmm-01499309〉

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