On the evaluation of FPGA radiation benchmarks - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2021

On the evaluation of FPGA radiation benchmarks

Résumé

This paper presents a benchmarking methodology to analyse the failure mechanisms of FPGAs under radiation, using comparative results on the radiation sensitivity of parallel multipliers with different implementations. Atmospheric neutron beam test results of Artix7, Spartan7 and IGLOO2 FPGAs are presented and validated against fault injection campaigns.

Domaines

Electronique Systèmes embarqués Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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Soumis le : jeudi 18 novembre 2021-18:42:19

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Archivage à long terme le : samedi 19 février 2022-20:04:11

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Dates et versions

lirmm-03382368 , version 1 (18-11-2021)

Identifiants

Citer

Gaetan Bricas, Georgios Tsiligiannis, Antoine Touboul, Jérôme Boch, Maria Kastriotou, et al.. On the evaluation of FPGA radiation benchmarks. Microelectronics Reliability, 2021, 126, pp.#114276. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114276⟩. ⟨lirmm-03382368⟩

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