Electrical Behavior of GOS Fault Affected Domino Logic Cell

Type de document :
Communication dans un congrès
DELTA'06: IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications, Jan 2006, Kuala Lumpur, Malaysia, IEEE, pp.183-189, 2006
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102703
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 2 octobre 2006 - 15:41:20
Dernière modification le : mercredi 18 juillet 2018 - 10:54:13

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102703, version 1

Collections

Citation

Mariane Comte, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara, Michel Renovell. Electrical Behavior of GOS Fault Affected Domino Logic Cell. DELTA'06: IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications, Jan 2006, Kuala Lumpur, Malaysia, IEEE, pp.183-189, 2006. 〈lirmm-00102703〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

49