HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level

Type de document :
Rapport
06023, 2006, 15 p
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102725
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 2 octobre 2006 - 15:47:57
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102725, version 1

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Citation

Marie Lafont, Florence Azaïs, Pascal Nouet. HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level. 06023, 2006, 15 p. 〈lirmm-00102725〉

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