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Reports

HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level

Marie Lafont 1 Florence Azaïs 2 Pascal Nouet 2 
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Document type :
Reports
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102725
Contributor : Christine Carvalho De Matos Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Monday, October 2, 2006 - 3:47:57 PM
Last modification on : Friday, August 5, 2022 - 10:47:52 AM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00102725, version 1

Collections

CNRS | SYSMIC | LIRMM | LARA | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Marie Lafont, Florence Azaïs, Pascal Nouet. HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level. 06023, 2006, 15 p. ⟨lirmm-00102725⟩

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