HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level

Marie Lafont; Florence Azaïs; Pascal Nouet

HBM and CDM Stress Evaluation at Circuit Level

Marie Lafont ¹ Florence Azaïs ² Pascal Nouet ²

1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Type de document :

Rapport

06023, 2006, 15 p

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102725
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 2 octobre 2006 - 15:47:57
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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