Study of a Multi-Chip Circuit under CDM Stress

Type de document :
Rapport
06024, 2006, 20 p
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102726
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 2 octobre 2006 - 15:47:58
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102726, version 1

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Citation

Marie Lafont, Florence Azaïs, Pascal Nouet. Study of a Multi-Chip Circuit under CDM Stress. 06024, 2006, 20 p. 〈lirmm-00102726〉

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