Study of a Multi-Chip Circuit under CDM Stress - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Rapport Année : 2006

Study of a Multi-Chip Circuit under CDM Stress

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102726

Soumis le : lundi 2 octobre 2006-15:47:58

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00102726 , version 1 (02-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102726 , version 1

Citer

Marie Lafont, Florence Azaïs, Pascal Nouet. Study of a Multi-Chip Circuit under CDM Stress. 06024, 2006, 20 p. ⟨lirmm-00102726⟩

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