Compression de Données de Test : Réduction du Nombre de Broches et Gain en Temps de Test

Résumé : La réduction des coûts de test des circuits intégrés est devenu un axe majeur da la recherche en microélectronique. De nombreuses techniques permettent de réduire ces coûts en réduisant le temps de test et/ou le nombre de broches nécessaires de l'équipement de test. Mais, pour pouvoir effectuer la compression, les méthodes proposées requièrent la présence de bits non spécifiés (X) dans les séquences de test. D'autre part, la longueur de ces séquences est, de manière significative supérieure à celle de séquences complètement spécifiées. A l'inverse des techniques de compression, les méthodes basées sur la sérialisation des données de test peuvent utiliser les séquences complètement spécifiées, par ailleurs beaucoup plus courtes. Cet article présente tout d'abord une nouvelle méthode de compression horizontale des données de test, puis propose une réponse à la question: y a-t-il réellement un gain en terme de temps de test et de volume des données de test à utiliser la compression plutôt qu'une simple sérialisation des données de test?
Mots-clés : Test
Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France. 9ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, 2006
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 2 octobre 2006 - 16:48:08
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 01:20:04

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  • HAL Id : lirmm-00102830, version 1

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Julien Dalmasso, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Compression de Données de Test : Réduction du Nombre de Broches et Gain en Temps de Test. JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France. 9ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, 2006. 〈lirmm-00102830〉

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