Test Application Time Reduction with a Dynamically Reconfigurable Scan Tree Architecture

Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary, IEEE, pp.19-26, 2005
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:43
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00105987, version 1

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Citation

Yannick Bonhomme, T. Yoneda, Hideo Fujiwara, Patrick Girard. Test Application Time Reduction with a Dynamically Reconfigurable Scan Tree Architecture. DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary, IEEE, pp.19-26, 2005. 〈lirmm-00105987〉

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