Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105990

Soumis le : vendredi 13 octobre 2006-10:22:44

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00105990 , version 1 (13-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00105990 , version 1

Citer

Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel. Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution. DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary. pp.151-159. ⟨lirmm-00105990⟩

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