Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution

Nabil Badereddine 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Christian Landrault 1 Arnaud Virazel 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary. IEEE, pp.151-159, 2005
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105990
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:44
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 02:08:11

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00105990, version 1

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Citation

Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel. Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution. DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary. IEEE, pp.151-159, 2005. 〈lirmm-00105990〉

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