Resistive-Open Defect Influence in SRAM Pre-Charge Circuits: Analysis and Characterization

Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1 B. Hage-Hassan
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2005, Tallinn, Estonia. 10th IEEE European Test Symposium, pp.116-121, 2005
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106010
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:46
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106010, version 1

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Citation

Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, B. Hage-Hassan. Resistive-Open Defect Influence in SRAM Pre-Charge Circuits: Analysis and Characterization. ETS: European Test Symposium, May 2005, Tallinn, Estonia. 10th IEEE European Test Symposium, pp.116-121, 2005. 〈lirmm-00106010〉

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